Universitetet i Oslo
Integrert system for elektrisk karakterisering og probing av halvleder- og nevromorfe komponenter
Universitetet i Oslo skal bygge opp et nytt forskningsmiljø innen nevromorf maskinvare og
energieffektiv kunstig intelligens. Aktiviteten skal koble materialutvikling ved Senter for
materialvitenskap og nanoteknologi (SMN) med kompetansen innen krets- og systemdesign ved Institutt
for informatikk. Et sentralt behov er å kunne karakterisere elektriske komponenter fra tidlig material-
og komponentutvikling til mindre arrays og demonstratorer. Dette gjelder blant annet ferroelektriske
tunnelkontakter, ferroelektriske transistorer, resistive minnekomponenter og andre komponentkonsepter
med relevans for nevromorf elektronikk.
Anskaffelsen består av to tekniske hoveddeler (delkontrakt 1 og delkontrakt 2):
En modulær enhet for elektrisk måling og karakterisering
En semiautomatisk probestasjon med temperaturkontroll
Del 1: Kjøper
Del 2: Prosedyre
Del 5: Delkontrakt
Del 8: Virksomheter
Kunngjøringsinformasjon
Logg inn for å se gjennomgangen
Innlogget får du sammendrag, kvalifikasjonskrav, krav til tilbudet, tildelingskriterier, viktige kontraktskrav, forbehold ved utdraget og «verdt å avklare med oppdragsgiver» — hentet ut av konkurransegrunnlaget. Kunngjøringsteksten fra Doffin over er åpen for alle.
Kurs og rådgivning fra redaksjonen
Gratis fagmøte – 30 minutter digitalt om aktuelle anskaffelsestemaer.
Se datoer →Kurs: Hvordan vinne anbud – praktisk kurs for deg som skriver tilbud.
Les mer →Rådgivning
Ta kontakt →Levert av FOA – Forum for offentlige anskaffelser · Data fra Doffin og TED.